膜层结构

TOF-SIMS飞行时间二次离子质谱仪

在材料科学和表面工程研究领域，精确表征材料表面及界面特性始终是科研人员面临的关键挑战。传统表面分析技术往往受限于检测灵敏度、空间分辨率或样品损伤等问题，难以满足纳米尺度材料表征的严苛要求。表面污染分析难：当样品表面出现几个原子层的污染时，常规EDS、XPS等设